ظاهرة الانبعاث الثانوي
ظاهرة الانبعاث الثانوي ظاهرة فيزيائية في الصمامات المفرغة خصوصا. فعند سقوط جسيم ما على مادة محكومة بهذه الظاهرة, فإنه يحض جسيمات أخرى على الانبعاث, يسمى الجسيم الساقط بالجسيم الابتدائي, ويسمى الجسيم المنبعث بالجسيم الثانوي. قد يحدث الجسيم الابتدائي إما إلكترونا أوأيونا أوأشعة سين أوأشعة غاما. أما الجسيم الثانوي فيمكن حتىقد يكون:
- إلكترون: في هذه الحالية يسمى الإلكترون إلكترونا ثانويا.
- أيون: ويسمى أيون ثانوي.
- فوتون: وتسمى الظاهرة حينها بـانبعاث ضوئي.
المبدأ
لوأخذنا الإلكترون كمثال, فحين يسقط على المادة بسرعة كبيرة فإنه سيخترق الذرة ويدخل المدار الإلكتروني الخاص بالذرة, وبما حتى سرعته كبيرة فلن تتمكن النواة الموجبة من جذبه رغم حتى شحنته سالبة, لكن وأثناء عبوره المدار ذا الإلكترونات السالبة فإنه سيتنافر معها بسبب تشابه الشحنات. قد تنجم تلك المنافرة عن تحرير عدد من إلكترونات المدار وجعلها تسبح (تبنعث) لكن ببطء. لحصول ذلك ينبغي حتى تكون طاقة الإلكترون الساقط كافية لتحرير الإلكترونات. تدعى تلك الإلكترونات البطيئة إلكترونات ثانوية.
ووقد يسقط الإلكترون على المادة بطاقة كافية, ولكن لا يصادف إلكترونات أثناء اجتيازه المدار الإلكتروني, بل قد توثر قوة جذب النواة على اتجاه الالكترون, جاعلة يدور حولها ويرتد على منبعه دون حتى يحرر أي يحرر أي الكترون. يدعى هذا الإلكترون بـ الكترون مرتد أوالكترون ناكص بالإنگليزية: back-scattered electron. حدثا ازداد حجم النواة, ازداد رجيع الإلكترونات.
التطبيقات
تم توظيف هذه الظاهرة في تضخيم الضوء في جهاز صمام التضخيم الضوئي, حيثقد يكون الجسيم الابتدائي هوالألكترون والجسيم الثانوي هوالإلكترون كذلك والوسط بينهما قطب كهربائي معدني (داينود).
ووظفت كذلك في التصوير في المجاهر الإلكترونية المسحية, حيث يتم رش عينة الفحص بمادة تمتلك خاصية الانبعاث الثانوي قبل فحصها, ومن ثم تسليط إلكترونات عليها واصطياد الإلكترونات المنبعثة منها بواسطة شاشة فلورية.
ووظفت أيضا في مطيافية الكتلة بما يعهد بـ مطيافية الأيون الثانوي للكتلة.