مجهر القوة الذرية
جزء من سلسلة منطقات عن |
التاريخ |
الحقول الجزئية والمتعلقة |
---|
المواد النانوية |
الطب النانوي |
تجميع ذاتي جزيئي |
إلكترونيات نانوية |
Scanning probe microscopy |
تقنية نانوية جزيئية |
مِجهر الطاقة الذرية بالإنگليزية: Atomic Force Microscope, AFM أوما يسمى مجهر القوة الذرية AFM هوجهاز يستخدم في مجال تقنية النانولفهم ورسم تضاريس السطوح ذات الأبعاد النانوية والميكرونية.
مجهر القوة الذرية أومجهر القوة الماسحة Scanning Force Microscopy (SFM) هومجهر ذوقدرة تحليلية عالية وهوأحد أنواع مجاهر المجسات الماسحة والذي تحدثنا عن واحد منها وهوالمجهر النفقي الماسح STM في منطق سابق. ولكن هذا الميكروسكوب له قدرة تحليل تصل إلى اجزاء من النانومتر حيث انه يفوق حد تكبير الميكروسكوبات الضوئية بأكثر من 1000 مرة. ويعتبر هذا الميكروسكوب متطورا عن المجهر النفقي الماسح STM. اخترع ميكروسكوب القوة الذرية AFM العالمين Quate وGerber في العام 1986. وتوفر أول جهاز للاستخدام في المختبرات الفهمية في العام 1986. ويعتبر هذا الميكروسكوب الأكثر شهرة كأداة تكبير وقياس وتحريك على المستوى النانوي.
وحديثاً تمكن فهماء فيزيائيون في جامعة اوساكا في اليابان من استخدام مجهر القوة الذرية AFM في التعهد على هوية الهجريب الكيميائي وتحديد نوع جميع ذرة ومكان تواجدها على المخطط ثلاثي الابعاد لتضاريس سطح المادة على المستوى الذري. وقد اكتشف هؤلاء الفهماء ان التفاعلات تشكل بصمة ذرية لتمييز الذرات باستخدام ميكروسكوب AFM.
مبدأ عمل الجهاز
يتألف الجهاز من ابرة ذات ابعاد ميكرونية تقوم بالمرور على السطح المراد مسحه، تكون هذه الابرة مثبتة إلى حامل افقي بينما تكون هي نفسها عمودية على هذا الحامل وعلى السطح المراد مسحه، يتم إسقاط شعاع ليزري على الحامل والذي يرتفع وينخفض مع ازدياد وانخفاض الابرة وبالتالي مع تنوع تضاريس السطح من ازدياد وانخفاض، ويتم التقاط منعكس الشعاع الليزري على الحامل على مستقبل وبالتالي يتم تحديد ورسم تضاريس السطح الممسوح تبعا لحركة منعكس الشعاع الليزري.
يستطيع مجهر القوة الذرية رؤية أحجام بين 20 - 300 نانومتر، وهي أحجام الفيروسات. أما أحجام البروتينات فهي ما بين 1 - 30 نانومتر. وبالمقارنة بأحجام كرات الدم الحمراء فهي تصل إلى نحو7000 نانومتر (أيسبعة ميكرومتر).
استخدام الجهاز
يستخدم مجهر الطاقة الذرية في فهم تضاريس السطوح ذات الابعاد النانوية وحتى الميكرونية، في السنوات الأخيرة تنوع استخدام هذا الجهاز حيث أصبح يستخدم في قياسات أخرى مثل قياس مرونة الجزيئات النانوية والميكرونية والخلايا كما أصبح يستخدم في قياس طاقة الالتصاق بين الجزيئات الكيميائية والجزيئات النانوية والميكرونية والخلايا أيضاً.
المبدأ الاساسي
يتكون مجهر القوة الذرية AFM من ذراع cantilever في نهايته مجس probe مكون من رأس حاد يعهد بالـ tip يستخدم لمسح سطح العينة. تكون الذراع مصنوعة من مادة السليكون أونيتريد السيليكون بنصف قطر في حدود بضع نانومترات. عندما يقترب رأس المجس من سطح العينة تتولد قوة بين رأس المجس وسطح العينة تؤدي هذه القوة إلى انحراف في الذراع بناء على قوة هوك. وقد تكون القوة المتبادلة قوة ميكانيكية أوقوة فاندرفال أوأوقوة شعرية قوة كهروستاتيكية أوقوة مغناطيسية أوقوة رابطة كيميائية أوقوة كزيمار أوغيرها من أنواع القوة وهذا حسب نوع السطح الذي يتم دراسته. كما يمكن دراسة الكثير من أنواع هذه القوة باستخدام مجسات خاصة وعندها يسمى الميكروسكوب باسمها مثل مجهر القوة المغناطيسية magnetic force Microscope (MFM) أومجهر المسح الحراري scanning thermal microscopy أوغيره. وفي جميع هذه الميكروسكوبات تحدث القوة المتبادلة باختلاف أنواعها انحراف في ذراع مجهر القوة الذرية يقاس هذا الانحراف بواسطة انحراف شعاع ليزر عن مرأة مثبتة على ذراع الميكروسكوب. وشعاع الليزر المنعكس يرصد على مصفوفة خطية من الفوتودايود. Photodiodes. وهناك طرق أخرى لقياس الانحراف مثل مقياس التداخل الضوئي optical interfermetry، أوباستخدام بيزوالكهجر أومجس سعة كهربية. وحسب طريقة قياس الانحراف يتم تصميم ذراع الميكروسكوب فمثلا لوكانت طريقة القياس تعتمد على الكهرباء الانضغاطية (بيزوالكتروك) فان الذراع تصنع من مواد بيزوالكتروك. ولكن تعتبر طريقة قياس الانحراف بشعاع الليزر الطريقة الادق والأكثر استخداما. اذا تم مسح المجس عند ازدياد معين من سطح العينة فقد يحدث هناك خطورة على المجس بان يصطدم بالسطح، ولتجنب حدوث هذا يتم استخدام تغذية عكسية للتحكم في المسافة بين المجس وسطح العينة لتحافظ على القة المبتادلة بينهما ثابتة. ويتم تثبيت العينة على قاعدة من مادة بيزوالكهجر تحرك العينة في الاتجاه z للحفاظ على قيمة ثابتة للقوة المتبادلة بين المجس وسطح العينة وكذلك تحريك العينة في البعدين x وy. وهناك أنواع أخرى من ميكروسكوبات القوة الذرية تستخدم ثلاثة بلورات بيزوالكتريك جميع بلورة مسئولة عن اتجاه من اتجاهات الحركة الثلاثة. وفي التصاميم الحديثة يتم تثبيت الذراع على ماسح بيزوالكتريك افقي في حين يتم تحريك العينة فقط في الاتجاهين x وy. وفي النهاية نحصل على خريطة لمساحة تمثل طبوغرافيا سطح العينة. يمكن تشغيل ميكروسكوب القوة الذرية AFM بعدة انماط تشغيل وهذا حسب الاستخدام المطلوب ونوع الفحص المراد. وبصفة عامة يمكن تقسيم انماط التشغيل بنوعين هما نمط التشغيل الاستاتيكي أونمط الاتصال والنوع الثاني هونمط التشغيل الديناميكي أونمط عدم الاتصال.
أنماط التشغيل وأخذ الصور
ذكرنا ان هناك نمطين أساسيين من أنماط تشغيل جهاز AFM وهما النمط الاستاتيكي والذي يتم فيه سحب الذراع عبر سطح العينة ويتم مباشرة قياس تضاريس السطح من خلال الانحرافات في الذراع. والنمط الديناميكيقد يكون الذراع يتذبذب بالقرب من السطح عند تردد رنيني resonance frequency. ويتم قياس التردد والسعة والطور وتردد الرنيني من خلال القوة المتبادلة بين المجس وسطح العينة. هذه التغيرات في التردد بالنسبة لتردد المرجعي يعطي معلومات عن خصائص العينة.
النمط الاستاتيكي اونمط الاتصال
هذا النمط يستخدم الانحراف في رأس المجس كإشارة للتغذية العكسية ولان قياس الإشارة في هذا النمط يتعرض للضجيج يتم استخدام ذراع اقل صلابة لتكبير مقدار إشارة الانحراف. ويقرب المجس من سطح العينة بحيث يحدث قوة تنافر تنتج عن الالكترونات على سطح العينة والكترونات المجس. ويتم الحفاظ على ثبات مقدار القوة التنارية هذه أثناء المسح من خلال المحافظة بقاء الانحراف ثابتاً.
النمط الديناميكي أونمط عدم الاتصال
في هذا النمط لاقد يكون المجس متصلا مع سطح العينة. بلقد يكون الذراع متذبذب عند تردد أكبر بقليل من تردد الرنين حيث تكون سعة الذبذبة في حدود بضع نانومتر (اقل منعشرة نانومتر). وتكون القوة المتبادلة بين المجس وسطح العينة هي قوة فاندرفال van der Waals وهي تكون مسيطرة عند تلك المسافة أي في حدود 1 إلىعشرة نانومتر فوق سطح العينة، وهذه القوة تعمل على تقليل تردد الرنين للذراع. هذا الانخفاض في تردد الرنين يستخدم في نظام التغذية العكسية الذي يقوم بالحفاظ على جعل سعة الاهتزازة ثابتا من خلال اعادة ضبط المسافة بين المجس والسطح. وبقياس المسافة بين المجس والسطح أثناء المسح في الاتجاهين x,y يتم رسم الصورة لطبغرافية سطح العينة باستخدام برامج معدة لذلك. هذا النمط لا يتعرض رأس المجس لأي ضرر لا نه لا يحتك مع سطح العينة مثلما يحدث مع النمط السابق. وهذا يجعل من نمط التشغيل الديناميكي مفضل أكثر وخصوصا في حالة التعامل مع العينات اللينة. ولكن في حالة العينات الصلبة فان الصور التي تؤخذ بكلا النمطين تكونا متماثلتين. ولكن إذا وجدت طبقة نانوية من مادة سائلة على سطح العينة فان النمطين يفترض أن يعطيا صورا مختلفة بعض الشيء. لان المجس في النمط المتصل يخترق طبقة السائل ليعطي صورة للسطح الأسفل منها، في حين ان النمط غير المتصل يفترض أن يتذبذب فوق السطح ويعطي صورة لكلا من السائل والسطح معا.
نمط النقر
في أغلب الأحيان تتكون طبقة مائية فوق سطح العينة. ولأننا نجعل رأس المجس قريب جدا من العينة للحصول على إشارة لمقياس القوة المتبادلة فانه من المحتمل ان يلتصق رأس المجس في العينة ولمنع هذا من الحدوث تم تطوير النمط الغير متصل بنمط النقر tapping mode وذلك للتغلب على هذه المشكلة.
في نمط النقر تتذبذب الذراع للأعلى والأسفل بالقرب من تردد الرنين وتكون سعة الذبذبة أكبر منعشرة نانومتر حيث تتراوح بين 100 و200 نانومتر. ونظرا للقوة المتبادلة التي تؤثر على الذراع عند اقترابها من سطح العينة فان قوة فاندرفال أوقوة ثنائيات القطب المتفاعلة أوالقوى الكهروستاتيكية تتسبب في تغير في سعة الذبذبة وتقل حدثا اقترب رأس المجس من سطح العينة. يتم التحكم بارتفاع الذراع بواسطة بيزوالكهجر تعمل على ضبط ازدياد الذراع أثناء مسح العينة. ويعتبر نمط التشغيل هذا نمط متطور عن نمط عدم الاتصال.
قياس انحراف ذراع ميكروسكوب القوة الذرية
ينعكس شعاع ليزر دايود على الجانب الخلفي للزراع ويتم التحكم فيه من خلال كاشف حساس للموضع position sensitive detector (PSD) يتكون من فوتوديودين موضوعين بالقرب من بعضهما البعض والمخرج من جميع فوتودايود موصل في مكبر differential amplifier. الازاحة الزاوية للذراع تجعل أحد الديودين يلتقط إشارة أكبر من الديود الاخر. وهذا يعطي إشارة تتناسب مع انحراف الذراع. وتصل حساسية الجهاز إلى كشف انحراف اقل منعشرة نانومتر. ويمكن تكبير التغير في زاوية الشعاع بزيادة طول مسار شعاع الليزر بضع سنتيمترات.
مطياف القوة
بالإضافة إلى استخدام ميكروسكوب القوة الذرية في الحصول على صور على المستوى الذري يستخدم الميكروسكوب في تحليل القوة، عملاقة قياسات القوة بين رأس المجس وسطح العينة كدالة في المسافة بينهم نحصل على نتائج تعهد باسم منحنى القوة والمسافة force-distance curve. في هذه الطريقة يتم أعطى رأس المجس وسحبه عن سطح العينة أثناء مراقبة انحراف الذراع كدالة في ازاحة البيزوالكتريك. هذه الوظيفة استخدمت في قياسات على المستوى النانوي مثل الروابط الذري وقوى فانردفال وقوى كايسمر وقوى التحلل في السوائل والجزيئات المفردة وقوى التمدد والتمزق. وهذه القوة صغيرة جدا في حدود البيكونيوتن piconewton ولا يمكن قياسها باي جهاز اخر والان أصبح قياسها بجهاز AFM وعلى وبدقة تحليلية تصل إلى 0.1 نانومتر. يمكن الحصول على قياسات مطياف القوة في كلا نمطي التشغيل الاستاتيكي والديناميكي.
التعهد على الذرات وتميزها
يستخدم مقياس القوة الذرية AFM للحصول على صور للذرات ولتحريكها أيضا على اسطح المواد. فالذرة على رأس المجس تتحسس الذرات ذرة ذرة على سطح العينة وتشكل قوة كيميائية مع جميع ذرة. ولان هذه التفاعلات تغير بشكل دقيق تردد اهتزاز رأس المجس، فإنها يمكن ان تقاس وترسم. وعلى هذا الأساس تم التميز بين ذرات السليكون والتن والرصاص على سطح سبيكة، من خلال مقارنة البصمات الذرية وتكبيرها. حيث تم ملاحظة ان رأس المجس يتفاعل مع ذرات السليكون بقوة في حين يتفاعل مع ذرات التن والرصاص بقوة اقل. ولهذا فان الذرات المتنوعة يمكن ان تتميز في صورة مصفوفة أثناء مرور رأس المجس على سطح العينة.
المزايا والعيوب
ومن عيوب جهاز AFM بالمقارنة مع جهاز SEM هوحجم الصورة. فجهاز SEM قادرا على مساحة تصل إلى بضع مليمترات وبعمق يصل إلى بضع مليمترات إلا حتى جهاز AFM يعمل على مساحة 150x150 مايكرومتر وبعمق 10-20 ميكروميتر. ولكن هذا العيب تم التعامل معه من خلال تطوير أجهزة AFM بواسطة شركة IBM تعمل بمجسين متوازيين. كما ان استخدام رأس مجس tip غير مناسب قد يعطي بعض العيوب في الصورة الناتجة. بالإضافة إلى ان AFM يعمل ببطء بالمقارنة مع SEM الذي يعطي صورة حية للعينة فان AFM يحتاج ان يعمل لبضعة دقائق حتى يعطي صورة. وهذا التأخير يؤدي إلى انزياح حراري في الصورة مما يجعل ميكروسكوب القوة الذرية غير مناسب للقياسات الدقيقة للمسافات الطوبوغرافية على الصورة. ويتم تطوير أجهزة AFM للتغلب على هذه المشكلة بأجهزة تعهد باسم videoAFM والتي تعمل بسرعة فاقت سرعة SEM. تتأثر صور AFM بالتخلف hysteresis في المواد البيزوالكتريك والتداخل في الإشارات الملتقطة لكل من x,y أثناء المسح ولكن هذا تم التغلب عليه باستخدام برمجيات متطورة وفلاتر خاصة أوباستخدام ماسحات متعامدة منفصلة. ماسح البيزوالكتريك Piezoelectric هوتعبير عن ماسح من مادة بيزوالكتريك وهي مواد تنضغط وتتمدد بتطبيق فرق جهد كهربي وهذه الخاصية تستخدم في تحريك رأس المجس على العينة بدقة عالية. وقد تم شرح فكرة عمل البيزوالكتريك في منطق كيف من الممكن أن تعمل الكهرباء الانضغاطية. في النهاية نلاحظ كيف من الممكن أن ان الميكروسكوبات تختلف باختلاف الكيفية التي تقوم بها بالحصول على الصورة وفي هذا الموضوع قمنا بشرح فكرة مبسطة عن ميكروسكوب القوة الذرية والذي مكن الفهماء من رؤية الذرات والتميز بينها والتحكم بها الذي فتح الباب امام تكنولوجيا النانولتدرس المواد على المستوى الذري وفهم الكثير من خصائصها.
انظر أيضاً
- المجهر
- المجهر الإلكتروني الماسح
- مجهر ليزر ماسح
- مجهر إلكتروني
- مجهر إلكتروني نافذ ماسح
المصادر
قراءت إضافية
- Carpick, Robert W.; Salmeron, Miquel (1997). "Scratching the Surface: Fundamental Investigations of Tribology with Atomic Force Microscopy". Chemical Reviews. 97 (4): 1163–1194. doi:10.1021/cr960068q. ISSN 0009-2665.
- Giessibl, Franz J. (2003). "Advances in atomic force microscopy". Reviews of Modern Physics. 75 (3): 949–983. arXiv:cond-mat/0305119. Bibcode:2003RvMP...75..949G. doi:10.1103/RevModPhys.75.949. ISSN 0034-6861.
- Ricardo, Garcia; Knoll, Armin; Riedo, Elisa (2014). "Advanced Scanning Probe Lithography". Nature Nanotechnology. 9: 577. arXiv:1505.01260. Bibcode:2014NatNa...9..577G. doi:10.1038/NNANO.2014.157. PMID 25091447.
وصلات خارجية
مشاع الفهم فيه ميديا متعلقة بموضوع Atomic force microscopy. |
- SPM gallery: surface scans, collages, artworks, desktop wallpapers
- AFM Scan Image Gallery (organized by application area)